金融界 2024 年 10 月 29 日消息,国家知识产权局信息显示,FEI 公司申请一项名为“用于处理显微图像的小样本学习”的专利,公开号 CN 118823769 A,申请日期为 2024 年 4 月。
专利摘要显示,用于处理显
微图像的小样本学习。
本文中公开了科学仪
器支持系统以及相关
的方法、计算设备和计
算机可读介质。例如,
在一些实施方案中,一
种科学仪器支持装置
可以包括:第一逻辑,
该第一逻辑用于从带
电粒子显微镜接收样
品的显微图像;第二逻
辑,该第二逻辑用于通
过使用多个先前处理的显微图像训练的通用机器学习模型处
理该显微图像来生成第一经处理图像;第三逻辑,该第三逻
辑用于利用相关显微图像重新训练该通用机器学习模型,其
中该相关显微图像包括与该样品相关的对象的标签,并且该
相关显微图像不包括在该多个先前处理的显微图像中;和第
四逻辑,该第四逻辑用于通过借由所重新训练的通用机器学
习模型处理该显微图像来生成与该第一经处理图像不同的第
二经处理图像。
来源:金融界